PID效应（potential Induced Degradation）全称电势诱导衰减，PID测试标准引自于IEC62804-1：System Voltage durability test for crystalline silicon modules，测试要求是将组件置于一定的温度、湿度环境，将组件内部导电体与高压电源的一个级连接在一起，组件外导电体与高压电源的另一个极连接。