产品详情集机械设计之精,融电气研制之智
■ LETID系统是一种用于测试光伏组件在高温和光照条件下性能衰减的系统。LETID(Light and elevated Temperature Induced Degradation)是指光伏组件在高温和光照条件下发生的性能衰减现象,这种现象会对组件的发电效率产生负面影响。LETID系统的工作原理和功能LeTID系统通过模拟高温和光照条件,测试光伏组件在长时间高辐照和高温度环境下的性能变化。系统通常包括以下功能:
■ TC热循环试验:模拟组件在不同温度下的热循环,评估组件的耐热性能。
■ HF湿冻试验:测试组件在湿冻环境下的性能变化。
■ LETID光照下高温衰减试验:在高温和光照条件下测试组件的性能衰减情况。
功能特点Functional characteristics
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本系统能够提供多个组件同时测试,测试通道根据客户的需求配置,通常为8或者12通道。
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设备为每一片测试样品配置1只独立的温度传感器,数据记录间隔用户自定义。
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系统软件根据用户预设参数,自动运行,具备B-0 CID测试能力。
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系统实时采集暗电压并(Vd)自动修正温度暗电压(Vd ’),更具温度修正暗电压绘制暗电压(Vd ’)变化曲线
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软件自动识别并记录温度修正暗电压最小值Vd,min’ 记录间隔可设。
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软件自动识别并记录温度修正暗电压小时平均值Vd,avg’ 记录间隔可设。
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软件自动进行温度修正暗电压筛选
同类型设备销售记录(部分)Sales records of the same type of equipment
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累积销售数量>100套
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